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| Si/GaP(111)和(■)界面的研究 | |
| 引用本文： | 黄春晖.Si/GaP(111)和(■)界面的研究[J].半导体学报,1989(7). |
| 作者姓名： | 黄春晖 |
| 作者单位： | 复旦大学表面物理实验室 上海 |
| 摘 要： | 本文报道用EHT方法计算Si/GaP(111)、(111)和(110)界面的电子结构,得到它们的价带不连续值△E_v分别为:0.88eV、0.97eV和0.87eV,这和Si/GaP的实验结果:△E_v=0.80eV和0.95eV相符合.不同晶向△E_v相差达0.1eV.分析Si和GaP价带顶位置的变化情况,发现对Si/GaP(111),界面态对价带顶的影响不大.但对于Si/GaP(111)异质结,由于界面态的影响,使Si价带顶明显上移.此时,界面态对△E_v的非线性影响不可忽略。 |
| 关 键 词： | 异质结 界面态 能带不连续 |
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