7—12MeV活化截面测量和低能中子影响的校正 |
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引用本文: | 赵文荣,于伟翔.7—12MeV活化截面测量和低能中子影响的校正[J].原子能科学技术,1995,29(4):294-300. |
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作者姓名: | 赵文荣 于伟翔 |
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摘 要: | 简述了7-12MeV能区由于有几种低能中子成分的存在给截面测量与评价带来困难,及低能中子的扣除方法,并给出了此能区几个反应道的测量结果,以图的形式与国际同行数据作了比较。又以^58Ni(n,p)^58Co反应为例,说明低能中子对T(d,n)^4He中子源的影响,还给出了^58Ni(n,p)反应的评价曲线。
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关 键 词: | 低能中子 破裂中子 扣除方法 截面 测量 中子 |
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