首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

RF Plasma MBE生长GaN材料及特性研究
引用本文:李伟,赵智彪,郑燕兰,李存才,杨全魁,胡建,齐鸣,李爱珍.RF Plasma MBE生长GaN材料及特性研究[J].功能材料与器件学报,1999,5(3):219-223.
作者姓名:李伟  赵智彪  郑燕兰  李存才  杨全魁  胡建  齐鸣  李爱珍
作者单位:中国科学院上海冶金研究所信息功能材料国家重点实验室!上海200050,中国科学院上海冶金研究所信息功能材料国家重点实验室!上海200050,中国科学院上海冶金研究所信息功能材料国家重点实验室!上海200050,中国科学院上海冶金研究所信息功能材料国家重点实验室!上海200050,中国科
基金项目:863 新材料领域专家委员会、中国科学院和上海市科委的资助
摘    要:用RFPlasma MBE方法生长出了GaN 材料,它的X 射线衍射半峰宽为335 秒,77K 下PL发光峰半峰宽为22meV,表明了材料具有较高的晶体质量。根据X射线衍射分析,位错密度约为7 .3 ×108cm -2 。用Si 作为掺杂剂,所得载流子浓度可覆盖1017 - 1019cm -3 的范围。掺Si GaN 的PL谱表明,Si 的引入可提高材料的发光效率。

关 键 词:RFPlasmaMBE  PL谱  硅掺杂  氧化镓

GaN GROWN BY RF PLASMA MBE AND STUDIES ON ITS PROPERTIES
LI Wei,ZHAO Zhibiao,ZHENG Yanlan,LI Cuncai,YANG Quankui,HU Jian,QI Ming,LI Aizhen.GaN GROWN BY RF PLASMA MBE AND STUDIES ON ITS PROPERTIES[J].Journal of Functional Materials and Devices,1999,5(3):219-223.
Authors:LI Wei  ZHAO Zhibiao  ZHENG Yanlan  LI Cuncai  YANG Quankui  HU Jian  QI Ming  LI Aizhen
Abstract:
Keywords:RF Plasma MBE  GaN  PL  Si doping
本文献已被 CNKI 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号