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用全电子产额技术测量薄膜材料的XAFS谱
作者姓名：刘涛 胡天斗 等
作者单位：中科院高能物理所同步辐射室，北京100039
摘    要：
关 键 词：全电子产额技术 测量 薄膜材料 XAFS谱
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