0.1eV n型HgCdTe光电导体双极迁移率与温度的关系 |
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引用本文: | 陆荣铿.0.1eV n型HgCdTe光电导体双极迁移率与温度的关系[J].红外与激光工程,1988(4). |
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作者姓名: | 陆荣铿 |
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摘 要: | 根据过剩少数载流子寿命和高、低电场下响应率之比的实验结果,在10~100K温度范围内,推导了0.1eV n型HgCdTe光电导体双极迁移率与温度的关系。发现温度超过60K时,双极迁移率呈指数下降,而在30K和60K之间时为常值。温度超过60K的这种迁移率的性质表明,主要的散射机理是一种具有~16meV光子能量的极性光学光子的散射。这一结果对于SPRITE探测器的设计是有帮助的。
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关 键 词: | 碲镉汞 光电导体 迁移率 温度 实验 |
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