| 基于测试系统的FPGA测试方法研究 |
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| 引用本文： | 解维坤,万清,章慧彬. 基于测试系统的FPGA测试方法研究[J]. 电子与封装, 2013, 0(5): 6-8 |
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| 作者姓名： | 解维坤 万清 章慧彬 |
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| 作者单位： | 中国电子科技集团公司第58研究所,江苏无锡214035 |
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| 摘 要： | ![]()
FPGA已经成为当今数字化系统硬件设计的核心,全球90%以上的嵌入式系统设计工程师正在使用FPGA进行着各种各样的设计。FPGA的快速发展,为测试厂商带来了新的机遇和挑战,针对FPGA的各种创新测试技术和解决方案不断问世。文章介绍FPGA配置方法,着重介绍了利用测试系统(ATE)直接配置和基于CPLD+FLASH的FPGA配置方法,介绍了FPGA配置模式选择和配置代码生成方法,并以Virtex-II FPGA为例,详细讲述了FPGA配置与测试过程。
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| 关 键 词： | FPGA 测试 配置 |
FPGA Testing Method Based on the Test System |
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| XIE Weikun,WAN Qing,ZHANG Huibin. FPGA Testing Method Based on the Test System[J]. Electronics & Packaging, 2013, 0(5): 6-8 |
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| Authors: | XIE Weikun WAN Qing ZHANG Huibin |
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| Affiliation: | (China Electronics Technology Group Corporation No.58 Research Institute, Wuxi 214035, China) |
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| Abstract: | ![]()
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| Keywords: | FPGA testing configuration |
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