首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

MEMS安全起爆芯片技术研究
作者姓名:薛艳  任小明  解瑞珍  刘卫  刘兰  平川
作者单位:陕西应用物理化学研究所,陕西 西安710061
摘    要:
针对MEMS火工品低能化带来的安全性问题,设计了MEMS安全起爆芯片,包括加热器层、绝缘层、导线控制层。对安全起爆芯片的形貌、表面粗糙度、厚度和安全发火性能进行了测试,测试结果表明:MEMS平面开关可以实现通断转换,安全起爆芯片的全发火电流为0.5A,全发火电压为7V,作用时间22微秒,发火能量小于1mJ。MEMS安全起爆芯片能够提高本质安全性,可以为MEMS火工品提供技术支撑。

关 键 词:MEMS技术  安全起爆芯片  MEMS开关  Ni-Cr加热器  性能测试
本文献已被 万方数据 等数据库收录!
点击此处可从《传感技术学报》浏览原始摘要信息
点击此处可从《传感技术学报》下载全文
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号