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退火对ZnO/Cu/ZnO透明导电薄膜性能的影响
引用本文:李文英,钟建,张柯,汪元元,尹桂林,何丹农.退火对ZnO/Cu/ZnO透明导电薄膜性能的影响[J].材料工程,2015,43(1):44-48.
作者姓名:李文英  钟建  张柯  汪元元  尹桂林  何丹农
作者单位:1. 上海交通大学材料科学与工程学院,上海,200240;2. 纳米技术及应用国家工程研究中心,上海,200241;3. 上海交通大学材料科学与工程学院,上海200240;纳米技术及应用国家工程研究中心,上海200241
基金项目:科技部国际合作项目,上海市纳米专项
摘    要:室温下利用磁控溅射制备了ZnO/Cu/ZnO透明导电薄膜,采用X射线衍射(XRD)、原子力显微镜(AFM)、扫描电子显微镜(SEM)、霍尔效应测量仪和紫外-可见分光光度计研究了薄膜的结构、形貌、电学及光学等性能与退火温度之间的关系。结果表明:退火前后薄膜均具有ZnO(002)择优取向,随着退火温度的升高,薄膜的晶化程度、晶粒粒径及粗糙度增加,薄膜电阻率先降低后升高,光学透过率和禁带宽度先升高后降低。150℃下真空退火的ZnO/Cu/ZnO薄膜的性能最佳,最高可见光透光率为90.5%,电阻率为1.28×10-4Ω·cm,载流子浓度为4.10×1021cm-3。

关 键 词:退火  ZnO  Cu  透明导电薄膜

Effects of Annealing on Properties of ZnO/Cu/ZnO Transparent Conductive Film
LI Wen-ying,ZHONG Jian,ZHANG Ke,WANG Yuan-yuan,YIN Gui-lin,HE Dan-nong.Effects of Annealing on Properties of ZnO/Cu/ZnO Transparent Conductive Film[J].Journal of Materials Engineering,2015,43(1):44-48.
Authors:LI Wen-ying  ZHONG Jian  ZHANG Ke  WANG Yuan-yuan  YIN Gui-lin  HE Dan-nong
Abstract:
Keywords:annealing  ZnO  Cu  transparent conductive film
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