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低温技术在X射线晶体结构测定中的应用
引用本文:周清廉,胡宁海,邢彦,金钟声.低温技术在X射线晶体结构测定中的应用[J].分析仪器,1988(3).
作者姓名:周清廉  胡宁海  邢彦  金钟声
作者单位:中国科举院长春应用化学研究所 (周清廉,胡宁海,邢彦),中国科举院长春应用化学研究所(金钟声)
摘    要:为测定不稳定晶体结构,自制了一种选晶器.并对LT-1低温装置作了一些改进,在氮气冷却系统前加了冷阱,以便纯化氮气。利用这一低温系统测定了40多个不稳定晶体结构.本文报导了用改进的低温技术测定的两个不稳定晶体结构,证明系统的可靠性.

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