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THGEM探测器化学抛光及其工作气体优化
引用本文:谢文锦,赵子喻,覃潇平,刘熙文,黄雪峰,黄博,封焕波,刘倩,刘宏邦.THGEM探测器化学抛光及其工作气体优化[J].核电子学与探测技术,2019,39(3).
作者姓名:谢文锦  赵子喻  覃潇平  刘熙文  黄雪峰  黄博  封焕波  刘倩  刘宏邦
作者单位:广西大学,南宁,530004;浙江大学,杭州,310027;中国科学院大学,北京,100049
基金项目:国家自然科学基金;广西自然科学基金;广西壮族自治区高等学校高水平创新团队及卓越学者计划
摘    要:采用新的化学抛光方法处理THGEM膜,在不同的气体成分和比例下对THGEM膜的增益和能量分辨进行研究测量。结果表明,以Ar/C_4H_(10)为工作气体的THGEM探测器所需工作电压较低、增益高、能量分辨相对较好。在Ar/C_4H_(10)(95%/5%)的气体条件下,THGEM的增益可达7×10~3。

关 键 词:THGEM膜  气体成分  优化  增益  能量分辨
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