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| GE POL钻石鉴定:第二步 | |
| 作者姓名： | J-P.Chalain E.Fritsch H.A.Hanni11 杨梅珍 |
| 作者单位： | SSEF Swiss Gemmological Institute!Falknerstr.9，Basel，CH-4001Switzerland，Laboratoire de Physique Cristalline!Institutdes Matérianux，JeanRouxel，BP32229，F-44322Nantes，France，SSEF Swiss Gemmological Institute!Falknerstr.9，Basel，CH-4001Switzerland |
| 摘 要： | 提出了 GE POL处理钻石的两步鉴定方法。第一 ,几乎所有的 GE POL钻石均为 a型 ,用 SSEF a型钻石检测仪可以区分近无色 a型钻石与其它类似颜色的钻石 ;第二 ,用拉曼光谱仪的 51 4 nm激光线可以获得这些 a型钻石的拉曼光谱。如果观察到 3 760 cm-1发光峰 ,则证明在钻石中存在少量 N-V心。所有研究的 GE POL钻石均显示这种发射。认为这是 GE处理钻石的特征 ,因此 ,显示 N-V心的近无色 a型钻石很可能是 GE POL处理钻石。还需要更多的样品来证实这一点。 |
| 关 键 词： | GEPOL 高压高温处理钻石 a型 N-V心(637nm) 发光性 拉曼光谱 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |