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铜-钨复合镀层电沉积工艺及其性能
引用本文:李广宇,张晓燕,闫超杰,朱礼兵,陈湘香.铜-钨复合镀层电沉积工艺及其性能[J].电镀与涂饰,2009,28(5).
作者姓名:李广宇  张晓燕  闫超杰  朱礼兵  陈湘香
作者单位:1. 贵州大学材料科学与冶金工程学院,贵州,贵阳,550003
2. 贵州大学材料科学与冶金工程学院,贵州,贵阳,550003;贵州省材料结构与强度重点实验室,贵州,贵阳,550003
基金项目:贵州大学研究生创新基金 
摘    要:采用复合电沉积的方法,通过在镀铜液中加入直径为1~3μm的钨颗粒,在纯铜表面制备了铜_钨复合镀层.研究了镀液中钨质量浓度、阴极电流密度.搅拌速率、镀液温度等工艺参数对镀层中钨质量分数的影响,测定了复合镀层的显微硬度和接触电阻.得到了复合电沉积的最优工艺为:钨质量浓度35 g/L,电流密度4 A/dm2,搅拌强度600 r/min,温度5℃.所得铜-钨复合镀层具有合适的显微硬度(98.5~112.0 Hv)、稳定且较低的接触电阻及较长的电接触寿命,可以取代AgCdO触头.

关 键 词:铜-钨复合电沉积  电接触材料  显微硬度  接触电阻

Study on electrodeposition process and properties of copper-tungsten composite coating
LI Guang-yu,ZHANG Xiao-yan,YAN Chao-jie,ZHU Li-bing,CHEN Xiang-xiang.Study on electrodeposition process and properties of copper-tungsten composite coating[J].Electroplating & Finishing,2009,28(5).
Authors:LI Guang-yu  ZHANG Xiao-yan  YAN Chao-jie  ZHU Li-bing  CHEN Xiang-xiang
Affiliation:LI Guang-yu,ZHANG Xiao-yan,YAN Chao-jie,ZHU Li-bing,CHEN Xiang-xiang College of Material Science , Metallurgical Engineering,Guizhou University,Guiyang 550003,China
Abstract:
Keywords:
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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