首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

PCB孔铜断裂失效分析探讨
引用本文:刘顺华,刘兴龙,王君兆.PCB孔铜断裂失效分析探讨[J].印制电路信息,2021(2).
作者姓名:刘顺华  刘兴龙  王君兆
作者单位:中车青岛四方车辆研究所有限公司;深圳市美信咨询有限公司;深圳市美信检测技术股份有限公司
摘    要:针对PCB在SMT后出现的通孔开路问题,本文结合孔铜断裂失效案例,通过CT、金相切片、SEM及热分析等分析手段来进行论证,分析PCB孔铜断裂的失效机理,并给出了预防控制建议。

关 键 词:印制电路板  孔金属化  孔铜断裂  金相组织  失效分析

Discussion on fracture analysis of PCB plated through hole
Liu Shunhua,Liu Xinglong,Wang Junzhao.Discussion on fracture analysis of PCB plated through hole[J].Printed Circuit Information,2021(2).
Authors:Liu Shunhua  Liu Xinglong  Wang Junzhao
Affiliation:(CRRC Qingdao Sifang Rolling Stock Research Institute Co.,Ltd.Qingdao 266000,China;Meixin Consulting Co.,Ltd.Shenzhen 518034,China;Meixin Testing Technology Co.,Ltd.Shenzhen 518034,China)
Abstract:For the open circuit failure of PCB plated though hole(PTH)after SMT,the article analyzed the failure mechanism of PTH,which combines actual failure cases.Using the analytical methods of CT/Metallurgical structure/SEM/thermal performance test,the causes of the PTH failure was analyzed,and the prevention measure was put forward.
Keywords:Printed Circuit Board  Plated Through Hole  The Fracture of PTH  Metallurgical Structure  Failure Analysis
本文献已被 维普 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号