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| TXRF与EDXRF分析方法对比研究 | |
| 引用本文： | 刘伊初,赵婷伟,邓玉福,孟德川,于桂英.TXRF与EDXRF分析方法对比研究[J].辽宁化工,2020,49(4):360-363. |
| 作者姓名： | 刘伊初 赵婷伟 邓玉福 孟德川 于桂英 |
| 作者单位： | 沈阳师范大学物理科学与技术学院,辽宁沈阳10034;辽宁省射线仪器仪表工程技术研究中心,辽宁沈阳110034;沈阳师范大学实验教学中心,辽宁沈阳110034 |
| 摘 要： | X射线荧光光谱分析法广泛应用于物质成分的定性与定量分析。全反射X射线荧光分析法(TXRF)是在能量色散X射线荧光分析(EDXRF)原理的基础上,加入X射线的全反射技术形成的一种新的表面痕量分析方法。本文从原理、仪器装置及定量定性分析过程等方面,对EDXRF和TXRF进行了对比分析研究。作为一种新的X射线荧光分析方法,TXRF具有灵敏度高、检出限低等特点,同其他检测方法相比,在很多应用领域都显示出很好的优越性。 |
| 关 键 词： | TXRF EDXRF 分析方法 |
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