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基于容栅传感器和单片机的变形检测系统
引用本文:孙永泉,王振清.基于容栅传感器和单片机的变形检测系统[J].微计算机信息,2007,23(35):103-104,37.
作者姓名:孙永泉  王振清
作者单位:北京航空航天大学材料学院,北京,100083
基金项目:国家高技术研究发展计划(863计划)
摘    要:文章介绍了基于容栅传感器和89C52单片机的位移检测系统的系统组成,重点分析了容栅数显卡尺信号转换原理及软件实现.该系统主要用于对结构的变形进行检测。

关 键 词:容栅数显卡尺  信号转换  检测
文章编号:1008-0570(2007)12-2-0103-02
收稿时间:2007-09-09
修稿时间:2007-11-09

Detection System Based on Capacitive Gate Transducer and Single-Chip Microcomputer
SUN YONGQUAN,WANG ZHENQING.Detection System Based on Capacitive Gate Transducer and Single-Chip Microcomputer[J].Control & Automation,2007,23(35):103-104,37.
Authors:SUN YONGQUAN  WANG ZHENQING
Abstract:The article describes structure of the Detection system, which is based on capacitive gate transducer and 89C52 single-chip microcomputer, It describes the signal transfer theory of the Capacitive Gate Transducer and the software program. The system is used to detect the distortion of framework.
Keywords:89C52
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