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基于电路压缩的单开路故障快速分析算法
引用本文:骆祖莹,张昌明,邢霄雄,甯青松,吴文川. 基于电路压缩的单开路故障快速分析算法[J]. 高技术通讯, 2009, 19(11). DOI: 10.3772/j.issn.1002-0470.2009.11.013
作者姓名:骆祖莹  张昌明  邢霄雄  甯青松  吴文川
作者单位:北京师范大学信息科学与技术学院,北京,100875;北京师范大学信息科学与技术学院,北京,100875;北京师范大学信息科学与技术学院,北京,100875;北京师范大学信息科学与技术学院,北京,100875;北京师范大学信息科学与技术学院,北京,100875
基金项目:863计划,国家自然科学基金 
摘    要:基于多网格和等效电路这两种电路压缩方法,提出了一种电源线/地线(P/G)网络单故障高效分析算法,以有效地提高P/G网单开路电阻故障的测试效率.该算法包括3个算法步骤:先采用多网格方法和等效电路方法对电路进行大幅度地压缩,此过程具有快速与高精度的优点,再采用连续过松弛(SOR)求解算法求解剩余电路的电压分布,最后根据已知电压节点快速而精确地返算出被压缩节点的电压.实验数据表明:该算法具有精度高、算法复杂性低、应用范围广等优点.与通用的不完全乔勒斯基分解共轭梯度(ICCG)求解算法相比,该算法在保持较高精度(误差小于0.0276%)的前提下,速度可以提高106倍,同时还可以求解ICCG算法无法处理的测例.

关 键 词:P/G网  连续过松驰(SOR)  开路故障  算法  不完全乔勒斯基分解共轭梯度(ICCG)

An efficient algorithm for single open-defect analysis based on circuit compaction
Luo Zuying,Zhang Changming,Xing Xiaoxiong,Ning Qingsong,Wu Wenchuan. An efficient algorithm for single open-defect analysis based on circuit compaction[J]. High Technology Letters, 2009, 19(11). DOI: 10.3772/j.issn.1002-0470.2009.11.013
Authors:Luo Zuying  Zhang Changming  Xing Xiaoxiong  Ning Qingsong  Wu Wenchuan
Affiliation:Luo Zuying Zhang Changming Xing Xiaoxiong Ning Qingsong Wu Wenchuan( College of Information Science and Technology,Beijing Normal University,Beijing 100875)
Abstract:Based on the mult-grid method for circuit compaction and the equivalent circuit method for circuit compaction,an efficient algorithm for single open-defect analysis is proposed in this paper to augment the test efficiency for debugging open defects in power/ground(P/G)networks .The algorithm consists of three successive steps.The first step uses the equivalent circuit method and the multi-grid method to aggressively compact the circuit,which is of visible advantages on efficiency and accuracy.The second ste...
Keywords:P/G network  successive over-relaxation (SOR)  open defect  algorithm  incomplete Cholesky decomposition conjugate gradient (ICCG)  
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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