| H2O对OLEDs寿命影响的探讨 |
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| 引用本文： | 沈吉明.H2O对OLEDs寿命影响的探讨[J].光电子技术,2004,24(3):169-170. |
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| 作者姓名： | 沈吉明 |
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| 作者单位： | 沈吉明（中国电子科技集团公司第五十五研究所,南京,210016） |
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| 摘 要： | 根据Alq3+的不稳定性模型,通过水分子的电离产生OH-,然后在Alq3层中引入Alq3+陷阱的方法,分析了器件中水气的存在对器件寿命的影响,表明当OLEDs内水浓度达到一定值时,才会对OLEDs寿命产生显著影响,而且寿命与H2O的浓度成反比,与电场强度的指数成反比.
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| 关 键 词： | 电离 Alq3+陷阱 寿命 |
| 文章编号： | 1005-488X(2004)03-0169-02 |
| 修稿时间： | 2004年5月16日 |
Discussion on Influence of H2O on OLEDs Lifetime |
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| SHEN Ji-ming.Discussion on Influence of H2O on OLEDs Lifetime[J].Optoelectronic Technology,2004,24(3):169-170. |
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| Authors: | SHEN Ji-ming |
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| Abstract: | We discusse the influence of H_2O on OLEDs lifetime in the paper. Based on the unstability model of Alq_3~+, ionization of H_2O can produce OH~- and then Alq_3~+ trap is introduced in Alq_3.It shows that H_2O can influence OLEDs lifetime remarkably when H_2O concentration in OLEDs is above the threshold. OLEDs lifetime is reciprocal to H_2O concentration and exponentially reciprocal to field intensity. |
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| Keywords: | ionization Alq_3~+ trap lifetime |
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