| 适用于高级数字网络测试的边界扫描芯片特性研究 |
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| 引用本文： | 王石记,徐鹏程,杜影.适用于高级数字网络测试的边界扫描芯片特性研究[J].计算机测量与控制,2010,18(10). |
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| 作者姓名： | 王石记 徐鹏程 杜影 |
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| 作者单位： | 北京航天测控技术开发公司,北京,100041 |
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| 摘 要： | 为解决高级数字网络交流耦合/差分的故障检测问题,对高级数字网络测试边界扫描标准(IEEE1149.6)进行了研究;针对符合IEEE1149.6标准的典型元件,基于测试结构和测试指令两个方面,简要阐述了高级数字网络的边界扫描测试原理;并对典型元件进行了特性参数分析与测试结构仿真;仿真结果表明:1149.6结构芯片可以实现对交流耦合差分通道中测试信号的边沿检测;最后通过实际的电路测试实验,给出了电路测试设计方法,为熟知边界扫描技术的设计者提供了有价值的参考.
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| 关 键 词： | 高级数字网络测试 边界扫描 可测试性设计 |
Research on The Preference of Typical Component for Advanced Digital Network Boundary-scan Test |
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| Wang Shiji,Xu Pengcheng,Du Ying.Research on The Preference of Typical Component for Advanced Digital Network Boundary-scan Test[J].Computer Measurement & Control,2010,18(10). |
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| Authors: | Wang Shiji Xu Pengcheng Du Ying |
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| Keywords: | IEEE1149 6 |
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