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| 微机化TTL数字集成电路功能测试仪 | |
| 作者姓名： | 刘必虎 |
| 作者单位： | 华东师范大学 |
| 摘 要： | 随着微电子技术的发展,数字集成电路的应用越来越广泛.一般科研机构、院校实验室、工厂和生产单位在使用中经常需要检测集成电路的好坏,而且关键是判断芯片逻辑功能是否损坏,而不是电特性参数.由于TTL数字集成电路种类繁多,因此,如何准确、快速、方便地测出各种芯片逻辑功能的好坏就成了急需解决的问题.国内曾有人介绍过配备微型计算机的测试系统,也有借助单板机配接一些接口电路来进行测 |
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