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高压直流GIL中盆式绝缘子表面电荷积聚与消散的实验研究
引用本文:张贵新,张博雅,王强,李金忠.高压直流GIL中盆式绝缘子表面电荷积聚与消散的实验研究[J].高电压技术,2015,41(5).
作者姓名:张贵新  张博雅  王强  李金忠
作者单位:1. 清华大学电机工程与应用电子技术系,北京100084;清华大学电力系统及大型发电设备安全控制和仿真国家重点实验室,北京100084
2. 中国电力科学研究院,北京,100192
基金项目:国家重点基础研究发展计划(973计划)(2014CB239502).Project supported by National Basic Research Program of China (973 program)
摘    要:研究直流电压下绝缘子表面电荷积聚及其抑制措施,是开发直流气体绝缘管道输电线路(GIL)的一项关键技术。因此建立了一套盆式绝缘子表面电荷测量系统,采用静电探头法,在空气中对施加了直流电压后的环氧树脂盆式绝缘子进行了表面电位的测量,研究了不同极性、不同幅值电压以及极性反转情况下表面电荷的积聚现象,并对表面电荷的消散进行了测量。实验结果表明:绝缘子表面电荷分布与所施电压极性密切相关;在0.5 MPa空气中,随着施加电压幅值(+40~+70 kV)增加,绝缘子表面电荷急剧增加(负电位最大处从-200 V增加到-3 000 V);在0.5 MPa空气中,先后施加+70 kV及-40 kV电压,绝缘子局部表面电荷激增现象明显(正电位最大处由500 V增大到超过2 500 V);在0.1 MPa空气中施加+40 kV电压,在0~300 min内,绝缘子表面电荷消散近似指数衰减过程,时间常数约为104 s数量级。

关 键 词:高压直流  GIL  表面电荷  盆式绝缘子  积聚  消散  静电探头

Experiment Study of Surface Charge Accumulation and Decay on a Cone-type Insulator in HVDC GIL
ZHANG Guixin,ZHANG Boya,WANG Qiang,LI Jinzhong.Experiment Study of Surface Charge Accumulation and Decay on a Cone-type Insulator in HVDC GIL[J].High Voltage Engineering,2015,41(5).
Authors:ZHANG Guixin  ZHANG Boya  WANG Qiang  LI Jinzhong
Abstract:
Keywords:HVDC  GIL  surface charge  cone-type insulator  accumulation  decay  electrostatic probe
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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