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基于Si/Si1-xGex/Si异质结双极性晶体管的微波功率器件电流密度的数值拟合计算
引用本文:张乒,曾健平,文剑,田涛. 基于Si/Si1-xGex/Si异质结双极性晶体管的微波功率器件电流密度的数值拟合计算[J]. 真空电子技术, 2005, 0(1): 24-27
作者姓名:张乒  曾健平  文剑  田涛
作者单位:湖南大学,应用物理系,湖南,长沙,410082
摘    要:采用异质结双台面双极型结构设计微波功率器件,选择Si作发射区和集电区,Si1-xGex合金作基区的n-p-n型异质结双极性晶体管,利用数学方法,通过实验数据,采用MATLAB得到了一个比线性化更精确的禁带宽度Eg在300 K时关于Ge组分变化的方程.并用数值方法计算出集电区电流密度Jc随VBE变化的直流方程,与实验结果相符,并得到一个最佳的Ge组分值.

关 键 词:双极型  异质结双极性晶体管  微波功率器件  数值方法
文章编号:1002-8935(2005)01-0024-04
修稿时间:2004-03-17

A Numerical Method for Correlating Current Density of the Microwave Power Device Based on Si/Si1-xGex/Si
ZHANG Ping,ZENG Jian-ping,WEN Jian,TIAN Tao. A Numerical Method for Correlating Current Density of the Microwave Power Device Based on Si/Si1-xGex/Si[J]. Vacuum Electronics, 2005, 0(1): 24-27
Authors:ZHANG Ping  ZENG Jian-ping  WEN Jian  TIAN Tao
Abstract:
Keywords:Si1-xGex
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