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基于Biogeography的SoC测试Wrapper扫描链设计算法
引用本文:朱爱军,李智,许川佩,胡聪,牛军浩.基于Biogeography的SoC测试Wrapper扫描链设计算法[J].仪器仪表学报,2012,33(12).
作者姓名:朱爱军  李智  许川佩  胡聪  牛军浩
作者单位:1. 西安电子科技大学机电工程学院 西安710071
2. 西安电子科技大学机电工程学院 西安710071;桂林电子科技大学电子工程与自动化学院 桂林541004
3. 桂林电子科技大学电子工程与自动化学院 桂林541004
摘    要:基于IP(intellectual property)核的系统级芯片的测试已成为SoC(system on chip)发展中的瓶颈,提出了一种采用BBO(biogeography based optimization)算法的Wrapper扫描链设计方法,使得Wrapper扫描链均衡化,从而达到IP核测试时间最小化的目的.本算法基于群体智能,通过实施迁徙操作和变异操作,实现Wrapper扫描链均衡化设计.本文以ITC'02 Test benchmarks中的典型IP核为实验对象,实验结果表明本算法相比BFD(best fit decrease)等算法,能够进一步缩短Wrapper扫描链,从而缩短IP核测试时间.

关 键 词:生物地理学  wrapper扫描链  SoC测试

Wrapper scan chain design algorithm for SoC test based on Biogeography optimization
Zhu Aijun , Li Zhi , Xu Chuanpei , Hu Cong , Niu Junhao.Wrapper scan chain design algorithm for SoC test based on Biogeography optimization[J].Chinese Journal of Scientific Instrument,2012,33(12).
Authors:Zhu Aijun  Li Zhi  Xu Chuanpei  Hu Cong  Niu Junhao
Abstract:
Keywords:
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