| 基于MSA的TDR特性阻抗测试仪性能分析 |
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| 引用本文： | 刘金凤,邓世文.基于MSA的TDR特性阻抗测试仪性能分析[J].印制电路信息,2012(Z1):480-488. |
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| 作者姓名： | 刘金凤 邓世文 |
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| 作者单位： | 广东正业科技股份有限公司 |
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| 摘 要： | 文章介绍一种国际上公认的时域反射技术在PCB高频阻抗检测中的应用,该技术最初是在美国Tektronix公司、英国Polar公司中发展起来的,一段时间内垄断了国内PCB阻抗检测领域。作为国内首家研发的产品,使用者对国产特性阻抗仪的性能是否达到测量的要求,仍然有些质疑。因此,通过MSA测量系统分析技术对TDR阻抗测试仪的五种(偏倚性、线性、稳定性、重复性和现现性)性能进行分析,对该测量系统的性能特征进行评价,表明该仪器完全可以同国外同类产品相比美。
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| 关 键 词： | TDR阻抗测试仪 时域反射技术 MSA |
TDR characteristic impedance tester performance analysis based on msa |
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| LIU Jin-feng,DENG Shi-wen.TDR characteristic impedance tester performance analysis based on msa[J].Printed Circuit Information,2012(Z1):480-488. |
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| Authors: | LIU Jin-feng DENG Shi-wen |
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| Affiliation: | LIU Jin-feng DENG Shi-wen |
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| Abstract: | 文章介绍一种国际上公认的时域反射技术在PCB高频阻抗检测中的应用,该技术最初是在美国Tektronix公司、英国Polar公司中发展起来的,一段时间内垄断了国内PCB阻抗检测领域。作为国内首家研发的产品,使用者对国产特性阻抗仪的性能是否达到测量的要求,仍然有些质疑。因此,通过MSA测量系统分析技术对TDR阻抗测试仪的五种(偏倚性、线性、稳定性、重复性和现现性)性能进行分析,对该测量系统的性能特征进行评价,表明该仪器完全可以同国外同类产品相比美。 |
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| Keywords: | TDR Impedance Measuring Instrument Time Domain Reflectometry Technology MSA |
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