| MC模拟稻米中Cd元素的XRF法检测 |
| |
| 引用本文： | 张丽娇,汤彬,李福生,刘志锋,张雄杰,张焱.MC模拟稻米中Cd元素的XRF法检测[J].核电子学与探测技术,2019,39(2). |
| |
| 作者姓名： | 张丽娇 汤彬 李福生 刘志锋 张雄杰 张焱 |
| |
| 作者单位： | 东华理工大学核技术应用教育部工程研究中心,南昌330013;江西省核资源与环境重点实验室,南昌330013;东华理工大学核技术应用教育部工程研究中心,南昌,330013 |
| |
| 基金项目： | 国家重点研发计划;国家自然科学基金;国家自然科学基金;核技术应用教育部工程研究中心基金;江西省教育厅科技项目 |
| |
| 摘 要： | 对XRF法测定稻米中重金属元素时X射线管激发条件和滤光片等测量条件的选择作了理论分析;以Cd元素为例,讨论其最优方案,再通过MC软件进行蒙特卡罗模拟,计算出峰背比,得到各最优值,验证理论分析的准确性。X射线管采用激发较强初级X射线的W靶,管压模拟结果显示,最佳值为80 kV,与理论估算相吻合;滤光片模拟结果显示:Al、Fe和Cu滤光片的厚度分别在1 800、200和130μm时,峰背比最大,三者均与理论估算一致。通过比较,滤光片的最佳条件应为200μm的Fe片。
|
| 关 键 词： | 重金属元素 X射线荧光光谱法 靶材 管压 滤光片 |
| 本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录！ |
|
