半导体集成电路的质量控制 |
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引用本文: | 李亚宁,徐登厚.半导体集成电路的质量控制[J].电子工程,1996(1):48-53. |
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作者姓名: | 李亚宁 徐登厚 |
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摘 要: | 本文阐述了对IC电路必须进行有效的质量说明产品的质量可靠性是制造出来的,而不是检验出来的科学概念,即是说,任何检验规范和筛选方法都不能提高产品固有的制造出来的可靠性,然而,一批产品无论质量多好,总有少量的容易早期失效,籍助于恰当的检验程序和方法,就可以最大限度地淘汰早期失效(或其它因素造成的损坏),保证雷达整机的质量水平和装备完好性。
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关 键 词: | 集成电路 质量控制 检验筛选 制造工艺 |
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