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n型GaSb,InGaAsSb的MBE生长和特性研究
引用本文:郑燕兰,李爱珍,王建新,茹国平,李存才,胡建.n型GaSb,InGaAsSb的MBE生长和特性研究[J].功能材料与器件学报,1996,2(4):260-263.
作者姓名:郑燕兰  李爱珍  王建新  茹国平  李存才  胡建
作者单位:中国科学院上海冶金研究所信息功能材料国家重点实验室
摘    要:本文报导了非故意掺杂InGaAsSb本底浓度的降低和掺Ten型GaSb和InGaAsSb的MBE生长与特性的研究结果。结果表明,通过生长工艺的优化,GaSb和InGaAsSb的背景空穴浓度可分别降至1.1×10~(16)cm~(-3)和4×10~(16)cm~(-3),室温空穴迁移率分别为940cm2/v.s和260cm~2/v.s。用Te作n型掺杂剂,可获得载流子浓度在10~(16)~10~(18)cm~(-3)的优质GaSb和InGaAsSb外延层,所研制的材料已成功地制备出D_λ~*=4×10~(10)cmHz~(1/2)/W的室温InGaAsSb红外探测器和室温脉冲AlGaAsSb/InGaAsSb双异质结激光器。

关 键 词:InGaAsSb  掺杂  半导体  锑化物  MBE

MBE GROWTH AND CHARACTERIZATION OF N-TYPE GaSb AND InGaAsSb
ZHENG Yanlan,LI Aizhen,WANG Jianxin,RU Guoping,LI Cuncai and HU Jian.MBE GROWTH AND CHARACTERIZATION OF N-TYPE GaSb AND InGaAsSb[J].Journal of Functional Materials and Devices,1996,2(4):260-263.
Authors:ZHENG Yanlan  LI Aizhen  WANG Jianxin  RU Guoping  LI Cuncai and HU Jian
Abstract:
Keywords:InGaAsSb  doping  carrier concentration
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