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软硬协同的嵌入式系统存储可靠性增强设计
作者姓名:杨渊  邹祖伟
作者单位:中国工程物理研究院 电子工程研究所,四川 绵阳 621999
基金项目:国防科工局基础科研资助项目(JCKY2019212B004)
摘    要:单粒子翻转(SEU)效应是造成空天环境中处理器故障的常见原因,需进行有效的防护设计,提升航空航天等高空设备的可靠性。传统的嵌入式可靠性防护设计一般采用单一的硬件或软件方法:采用软件三模冗余实现,需要占用大量的中央处理器(CPU)资源;采用硬件电路实现,无法输出错误信息。以PPC460处理器为目标系统,探讨了利用现场可编程门阵列(FPGA)对PPC460处理器的可靠性增强设计方法,同时使用扩展型的汉明码编解码算法、奇偶校验、三模冗余技术,利用软硬协同的方式提高了存储空间内数据的正确性,减少了CPU资源消耗,有效实现了PPC460处理器在特殊复杂环境中对重要数据的高安全、高可靠、抗干扰保护。

关 键 词:现场可编程门阵列(FPGA)  单粒子翻转  汉明码  三模冗余
收稿时间:2022-01-17
修稿时间:2022-03-11
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