光盘参数分析的新方法-数据挖掘

本文首次将数据挖掘技术引入光盘参数分析中，有效地解决了基于统计的传统分析方法对光盘生产的测试中得到的大量的、离散的数据进行分析的困难，从而充分地利用了宝贵的数据信息资源，并从中提取出对光盘生产和测试具有指导意义的潜在规律。该方法可同样应用于其它领域的参数分析中。