基于第一性原理的氧化银纳米薄膜光学性质的研究 |
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引用本文: | 许晔,张文舒,韩培德.基于第一性原理的氧化银纳米薄膜光学性质的研究[J].真空科学与技术学报,2018(7). |
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作者姓名: | 许晔 张文舒 韩培德 |
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作者单位: | 太原理工大学材料科学与工程学院;新材料界面科学与工程教育部重点实验室 |
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摘 要: | 采用密度泛函理论构建了氧化银表面结构,并分析了薄膜厚度对结构稳定性及光学性质的影响规律,得出了氧化银(100)、(110)和(111)纳米薄膜的折射率、介电函数。研究表明,纳米薄膜的折射率、介电函数在可见光波段均低于块体,对(100)和(110)面来说,随着薄膜厚度的增加,其折射率、介电函数实部逐渐增加并接近于块体。而对于消光系数来讲,这三个表面构成的纳米薄膜均低于块体,尤其(111)面的吸收相对于另外两个面来说更小,其中21层和24层相对更小。因此可以得出结论:由氧化银纳米薄膜构建的光存储和磁光存储纳米薄膜器件,具有更高的透过率。
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