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引线带键合技术在混合集成电路中的应用
作者姓名:吴波
作者单位:中国电子科技集团公司第43研究所,合肥230022
摘    要:
在混合集成电路的引线带键合中,由于与圆形键合丝在键合引线形状上的不同,导致其键合方式和键合参数有所不同。本文以金带键合为例,就混合集成电路中金带键合点的失效模式、键合引线的评价等问题进行了讨论,通过采用正交试验法对键合参数进行优化试验,提高键合的可靠性,达到引线带在混合集成电路中实际应用的要求。

关 键 词:金带  引线带键合  正交试验
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