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光机部件通用测控平台研究与构建
引用本文:杨博,付奎生,刘亚斌.光机部件通用测控平台研究与构建[J].计算机测量与控制,2015,23(8):2617-2621.
作者姓名:杨博  付奎生  刘亚斌
作者单位:中国空空导弹研究院,河南 洛阳 471000,中国空空导弹研究院,河南 洛阳 471000,北京航空航天大学,北京 100191
摘    要:成像光机部件采用了许多全新的技术,研发测控系统以考核、测量与评估其各项性能指标也是重要课题,加之传统测控系统多是各型号自成一套,不能通用,在这种需求下,研发了具有系统化和通用化的测控平台;该测控平台按照通用化的设计思想,硬件部分设计了通用调理适配单元,对光机部件输出的信号进行统一调理适配,使信号具备标准的电气接口和物理接口,从而与通用集成板卡相连进行数据采集;软件部分设计了底层、逻辑层、表现层的层次结构,对于不同产品仅对表现层进行重新搭建而不需要修改底层和逻辑层;系统在实际应用中,图像和数据采集稳定,采样速率和精度高,实时性好,测控软件层次明确,数据吞吐量大,功能和性能满足多型光机部件的测控要求;该测控平台解决了成像光机部件的测试评估问题和测控系统的通用化问题,具有通用性和可扩展性强的特点。

关 键 词:通用化设计  数据采集  虚拟仪器  信号调理  层次设计
收稿时间:2014/12/11 0:00:00
修稿时间:2015/1/25 0:00:00
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