首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

裂变快中子辐照在GaAs中产生缺陷的正电子湮没研究
引用本文:李安利 罗起. 裂变快中子辐照在GaAs中产生缺陷的正电子湮没研究[J]. 核技术, 1998, 21(2): 102-104
作者姓名:李安利 罗起
作者单位:中国原子能科学研究院
摘    要:
采用自电子湮没寿命测量方法研究了注量为6.5×10^15/cm^2和1.4×10^14/cm^2,En≥1MeV的裂变中子辐照在掺Si,N型单晶GaAs产物的缺陷,此辐照在GaAs中产生单空位和双空位缺限,缺陷浓度于比于辐照注量,高温退火产生三空位缺陷及小空位团,单空位,双空位和三空位缺陷的退火温度分别为250,450,650℃。

关 键 词:裂变 快中子辐照 缺陷 正电子湮没 砷化镓

Positron annihilation study of defects in fission neutron irradiated GaAS
LI Anli LUO Qi FAN Zhiguo ZHENG Shengnan GOU Zhenhui WANG Chunrui QIAN Jiayu ZHU Shengyun. Positron annihilation study of defects in fission neutron irradiated GaAS[J]. Nuclear Techniques, 1998, 21(2): 102-104
Authors:LI Anli LUO Qi FAN Zhiguo ZHENG Shengnan GOU Zhenhui WANG Chunrui QIAN Jiayu ZHU Shengyun
Abstract:
Keywords:GaAs   Fission fast neutron irradiation   Defects   Annealing   Positron annihilation  
本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号