低浓度Ge掺杂及Sn、Ge替换CsPbI3的电光学性质 |
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引用本文: | 张登琪,田汉民,何全民,宋小雅,刘文芳,王月荣.低浓度Ge掺杂及Sn、Ge替换CsPbI3的电光学性质[J].激光与光电子学进展,2023(15):292-299. |
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作者姓名: | 张登琪 田汉民 何全民 宋小雅 刘文芳 王月荣 |
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作者单位: | 1. 河北工业大学电子信息工程学院;2. 天津电子材料与器件重点实验室 |
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摘 要: | 基于第一性原理计算软件Siesta,分析了全无机钙钛矿材料CsBI3(B=Pb,Sn,Ge)的结构、电学性质和光学性质。首先,基于GGA-PBE和GGA-PBEsol方法获得稳定的材料结构。其次,基于GGA-PBE和GGA-BLYP两种密度泛函方法分析了材料的带隙,并且通过改变材料的晶格常数,模拟材料产生的应变,对比发现材料的带隙随着晶格常数的增加而增加。此外,在超胞CsPbI3中少量掺杂Ge,发现材料的带隙会缩小0.7%到3.8%。最后,从光吸收系数可以看出,CsPbI3和CsGeI3的光吸收系数都接近6×105 cm-1,但是前者的吸收峰值位于350 nm附近,后者位于410 nm附近,而CsSnI3的光吸收系数接近4.75×105 cm-1,吸收峰位于350 nm附近。
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关 键 词: | 材料 全无机钙钛矿 带隙 Ge掺杂 Siesta GGA-BLYP |
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