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| LabVIEW在数字天线阵列测试中的运用 | |
| 引用本文： | 王太斌.LabVIEW在数字天线阵列测试中的运用[J].硅谷,2011(10):132-132,173. |
| 作者姓名： | 王太斌 |
| 作者单位： | 华东电子工程研究所,安徽,合肥,230031 |
| 摘 要： | 数字天线阵列的多天线单元和多收发通道间存在幅度相位误差,所以必须对其进行校正和测试以消除这些误差对系统性能影响。介绍利用虚拟仪器系统开发平台——LabVIEW和PCI-6534数据采集卡,完成阵列天线测试过程中校正和波瓣测试的数据采集。 |
| 关 键 词： | LabVIEW 数字天线阵列 误差 影响 |
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