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| 合成方法对0.2PZN-0.8PZT陶瓷交流阻抗性能的影响 | |
| 引用本文： | 郑木鹏,侯育冬,朱满康,严辉.合成方法对0.2PZN-0.8PZT陶瓷交流阻抗性能的影响[J].稀有金属材料与工程,2013(Z1):208-211. |
| 作者姓名： | 郑木鹏 侯育冬 朱满康 严辉 |
| 作者单位： | 北京工业大学 |
| 基金项目： | 国家自然科学基金(51072008);北京市自然科学基金(2102006) |
| 摘 要： | 分别采用一步固相法和二步预产物法合成0.2PZN-0.8PZT压电陶瓷,并对样品进行微结构和交流阻抗性能解析。结果表明两种方法均制备出纯钙钛矿相陶瓷。但是,二步预产物法合成的陶瓷晶粒尺寸显著增大且均一性提高。在相同阻抗测试温度区域,二步预产物法合成的陶瓷弛豫时间范围明显变宽,表现出较强的弛豫性。根据阿累尼乌斯公式对弛豫时间进行拟合,可以看出二步预产物法得到陶瓷激活能大于一步固相法合成样品,具有较低的氧空位浓度。 |
| 关 键 词： | 合成方法 微观结构 交流阻抗 介电弛豫 激活能 |
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