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| 铜-氨-硫代硫酸盐体系金溶出影响因素的电化学研究 | |
| 作者姓名： | 项朋志 张娅 邓飞宇 刘琼 邓超 叶国华 |
| 作者单位： | 昆明理工大学 国土资源工程学院,昆明 650093 ;云南开放大学 化学工程学院,昆明 650023;云南省中医中药研究院,昆明 650021;昆明市生态环境局五华分局,昆明 650030 |
| 基金项目： | 云南省教育厅(2021J1374,2021J1378);云南开放大学科研基金(21YNOU03) |
| 摘 要： | 铜-氨-硫代硫酸盐浸金体系中,金的溶出本质上是电化学过程。采用交流阻抗和Tafel曲线分析硫代硫酸盐、铜离子、氨浓度对金的溶出影响。结果表明:在金的溶出过程中,硫代硫酸盐和铜离子可能会导致钝化,尤其使铜离子浓度增大会导致钝化加剧,这种钝化会交替出现;氨水不会导致钝化;对金溶出速率的影响,硫代硫酸盐最大,铜离子最为复杂,氨影响相对最小。 |
| 关 键 词： | 硫代硫酸盐 浸金 交流阻抗 电化学 溶出 |
| 收稿时间： | 2022-11-02 |
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