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| 扫描探针显微镜在纳米材料表征中的应用 | |
| 引用本文： | 包生祥,王志红,李红霞,曾慧中,戴林杉,陈琨.扫描探针显微镜在纳米材料表征中的应用[J].现代科学仪器,2003(2):32-33. |
| 作者姓名： | 包生祥 王志红 李红霞 曾慧中 戴林杉 陈琨 |
| 作者单位： | 电子科技大学纳米技术中心,成都,610054 |
| 摘 要： | 报道了扫描探针显微镜在纳米电子薄膜材料的形貌、晶界、晶粒形状与尺度、表面粗糙度和剖面分析中的具体应用实例,以及纳米磁性薄膜中的微磁畴、铁电材料的微电畴和半导体PN区像等电磁特殊性的可视分析应用。 |
| 关 键 词： | 扫描探针显微镜 纳米材料 微结构 性能 表征 |
| 修稿时间： | 2003年3月30日 |
Application of Scanning Probe Microscope in the Characterization of Nano-materials |
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| Abstract: | |
| Keywords: | |
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