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APS对PPy/ SiO2纳米导电复合材料的界面改性研究
引用本文:任丽,王立新. APS对PPy/ SiO2纳米导电复合材料的界面改性研究[J]. 功能材料, 2004, 35(1): 69-70
作者姓名:任丽  王立新
作者单位:河北工业大学,高分子科学与工程研究所,天津,300130
基金项目:天津市自然科学基金重点资助项目(023802411)
摘    要:首先用不同百分含量的氨丙基三乙氧基硅烷(APS)处理SiO2,然后以水为反应介质.通过化学氧化聚合法合成PPy/APS-SiO2纳米复合材料.并利用热失重和四探针对复合材料进行表征和测试。结果表明用APS处理过的SiO2合成的复合材料的电导率和稳定性都有很大提高.其中用1%APS-SiO2合成的复合材料电导率最高,为38.46S/cm。

关 键 词:聚吡咯 二氧化硅 纳米复合材料 硅烷偶联剂 电导率 稳定性 界面改性
文章编号:1001-9731(2004)01-0069-02
修稿时间:2003-01-10

Interface modification of APS on PPy/SiO2 conducting nanocomposites
REN Li,WANG Li-xin. Interface modification of APS on PPy/SiO2 conducting nanocomposites[J]. Journal of Functional Materials, 2004, 35(1): 69-70
Authors:REN Li  WANG Li-xin
Abstract:
Keywords:polypyrrole  silica  nanocomposite  silane coupling agent  conductivity  stability  
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