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| TD-LTE芯片测试逾一半“不理想”规模试验遇新挑战 | |
| 引用本文： | 鲁义轩.TD-LTE芯片测试逾一半“不理想”规模试验遇新挑战[J].通信世界,2012(45):4. |
| 作者姓名： | 鲁义轩 |
| 摘 要： | 在13个城市开始的TD-LTE扩大规模试验计划中,多模终端性能、互操作和KPI达标情况,被列为重中之重。配合TD-LTE扩大规模试验而进行的首次TD-LTE终端招标结果日前出炉,面向16家企业进行包括手机在内的3万多部终端的采购,即日起面向内部专业用户发放。但除了平板电脑尚未符合中国移动的TD-LTE终端采购标准而未入选首批招标结果之外,TD-LTE的芯片能力尚未完全达到商用要求,甚至逾半数参测企 |
| 关 键 词： | 芯片测试 互操作 多模终端 大规模试验 招标结果 中国移动 网络优化 平板电脑 测试内容 一致性测试 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |