| 半导体器件的可靠性评价 |
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| 引用本文： | 潘勇强. 半导体器件的可靠性评价[J]. 电子质量, 2002, 0(8): 103-105 |
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| 作者姓名： | 潘勇强 |
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| 作者单位： | 中国华录·松下电子信息有限公司 |
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| 摘 要： | 文章分析了半导体器件中的故障机理,提出相应的可靠性评价方法,并给出一些评价实例。
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| 关 键 词： | 半导体器件 故障机理 可靠性 评价 |
The Evaluation of Reliability of Semiconductor Device |
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| PAN Yong-qiang China Hualu matsushita Avc co.,Ltd.. The Evaluation of Reliability of Semiconductor Device[J]. Electronics Quality, 2002, 0(8): 103-105 |
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| Authors: | PAN Yong-qiang China Hualu matsushita Avc co. Ltd. |
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| Abstract: | The article analyses trouble mechanism of semiconductor; and presents a method of Evaluating to reliability and some examples. |
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| Keywords: | semiconductor trouble mechanism Reliability Evaluation |
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