聚焦离子束技术最近进展 |
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引用本文: | Gamo.,K 海韵.聚焦离子束技术最近进展[J].国外核聚变与等离子体应用,1998(1):76-80,F004. |
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作者姓名: | Gamo. K 海韵 |
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摘 要: | 本文评述了聚焦离子(FIB)技术的最新进展。这些技术包括离子植入,离子束辅助蚀刻和沉积以及就地制造,由于FIB的无掩模能力和高电流密度,发现FIB作为一种显微外科手术工具的在超大规模集成(ULSI)器件或材料分析以及就地制造方面有重要应用,最近的聚焦离子束系统能产生直径小于10nm的聚焦离子束,而且作为纳米制造工具的重要性也日益增加,使用FIB主要在GaAs/GaAlAs异质结构中制造了各种小尺寸
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关 键 词: | 聚焦离子束 无掩模能力 离子束辅助沉积 蚀刻 |
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