Ta-W合金的化学机械抛光实验研究 |
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引用本文: | 舒行军,何建国,陶继忠,戴晓静,刘玉岭. Ta-W合金的化学机械抛光实验研究[J]. 精密制造与自动化, 2006, 8(2): 28-30 |
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作者姓名: | 舒行军 何建国 陶继忠 戴晓静 刘玉岭 |
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作者单位: | 中国工程物理研究院·机械制造工艺研究所,621900;河北工业大学微电机技术与材料研究所,300130 |
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摘 要: | 针对Ta-W合金材料圆薄片零件化学机械抛光工艺,设计了Ta-W合金材料CMP抛光液。采用单因素法,试验改变抛光液内组份的含量对抛光速率和抛光件表面质量的影响,以确定抛光液中各组分的最佳含量区间。找到化学作用与机械作用的最佳结合点,使两者的作用效果得到良好的匹配,才能获得高去除率、平面度好、无表面损伤的加工工艺。
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关 键 词: | 化学机械抛光 CMP抛光液 抛光速率 |
Experimental Research on Chemical Mechanical Polishing of Ta-W Alloy |
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