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| 环境试验的最新动向——访问日本电子元器件可靠性中心的环境试验研究所 | |
| 引用本文： | 肖虹.环境试验的最新动向——访问日本电子元器件可靠性中心的环境试验研究所[J].电子产品可靠性与环境试验,1996(2). |
| 作者姓名： | 肖虹 |
| 作者单位： | 电子部五所 广州510610 |
| 摘 要： | 1 绪言前些时候,我们(日本《材料与环境》编辑部的成员)访问了日本电子元器件可靠性中心(简称RCJ)的环境试验研究所。接待我们的是被称为电子元器件可靠性试验的创始人的穴山讯所长,他向我们介绍了有关环境试验方面的研究方法、标准和最新的动向,以及他们的宝贵经验等。2 环境试验研究所的概要环境试验研究所是一个以各种电子元器件和设备的环境试验以及耐久性试验为业务的公共机关。1964年,该所作为日本电子工业振兴协会(JEIDA)的“环境试验中心”而设立,1975年移交给RCJ,作为日本最早的可靠性技术中心而进行可靠性数据的收集和分析、有关可靠性试验方法的调查研究、可靠性技术的普及等。环境试验研究所的业务主要分为以下三大类: |
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