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| 薄膜传感器绝缘技术 | |
| 引用本文： | 李云晖,段祥照,于海波.薄膜传感器绝缘技术[J].仪表技术与传感器,1988(1). |
| 作者姓名： | 李云晖 段祥照 于海波 |
| 作者单位： | 沈阳仪器仪表工艺研究所 (李云晖，段祥照)，沈阳仪器仪表工艺研究所(于海波) |
| 摘 要： | 一、引言 随着各种测量仪器的出现,以应变计为传感元件的电阻应变测量方法迅速发展成为实验应力分析中最广泛应用的一种重要方法。 电阻应变测量方法主要用于测量构件表面的应变,被测试件表面的应变是通过应变计的基底传递给敏感栅的。因此,基底材料性能的好坏将直接影响到应变计的许多性 |
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