V4系列FPGA全局时钟缓冲器的内建自测试研究

提出一种新的基于V4系列FPGA全局时钟缓冲器的内建自测试方法。目前关键时钟缓冲器内建自测试正面临巨大的挑战,时序问题是目前发现的时钟缓冲器内建自测试的主要问题。由于时钟缓冲器输入端的同步开关会产生不同的相移,使得正常的器件内建自测试中产生故障指示。此外,目前时钟缓冲器内建自测试使用的是普通的布线资源连接时钟信号,而不是使用专用的时钟布线资源,这种方法会加剧时序问题。提出一种改良的方法去解决内建自测试的时序问题,并讨论这种方法对于可测试的最大时钟频率和总测试时间的影响。所有测试环节均在V4系列FPGA上实现。

Study of BIST for FPGA-based Global Clock Buffer