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| 应用对称编码的测试数据压缩解压方法 | |
| 引用本文： | 梁华国,蒋翠云,罗强.应用对称编码的测试数据压缩解压方法[J].计算机研究与发展,2011,48(12):2391-2399. |
| 作者姓名： | 梁华国 蒋翠云 罗强 |
| 作者单位： | 1. 合肥工业大学电子科学与应用物理学院 合肥230009 2. 合肥工业大学数学学院 合肥230009 3. 合肥工业大学计算机与信息学院 合肥230009 |
| 基金项目： | 国家自然科学基金项目，教育部高等学校博士学科点专项科研基金项目，安徽高校省级自然科学研究重点项目 |
| 摘 要： | 随着超大规模集成电路制造技术的快速发展,单个芯片上已能够集成的晶体管数目越来越多.由于各种知识产权芯核集成到一个芯片上,这样给集成电路测试带来了巨大的挑战,测试数据压缩技术能够有效降低对昂贵的ATE性能要求.提出一种对称编码方法,能有效地提高测试数据压缩率,降低测试成本.传统的编码技术采用对0游程或1游程进行编码,但由... |
| 关 键 词： | 测试数据压缩 SoC测试 游程 无关位 SVC编码 |
Test Data Compression and Decompression Using Symmetry-Variable Codes |
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| Liang Huaguo,Jiang Cuiyun,Luo Qiang.Test Data Compression and Decompression Using Symmetry-Variable Codes[J].Journal of Computer Research and Development,2011,48(12):2391-2399. | |
| Authors: | Liang Huaguo Jiang Cuiyun Luo Qiang |
| Abstract: | |
| Keywords: | |
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