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基于March C+改进算法的MBIST设计
作者姓名:申志飞  梅春雷  易茂祥  闫涛  阳玉才
作者单位:(合肥工业大学 电子科学与应用物理学院,安徽 合肥 230009)
基金项目:安徽省教育厅自然科学重点基金资助项目
摘    要:针对SRAM内建自测试(MBIST),介绍几种常用的算法,其中详细介绍March C+算法,在深入理解March C+算法的基础上对其提出改进,以此提高MBIST的故障覆盖率。并且利用自顶向下设计方法,Verilog HDl设计语言、设计工具等设计MBIST电路及仿真验证,证明了本设计的正确性和可行性。

关 键 词:MBIST  IC设计  March  C+  Verilog  HDL
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