基于数控电阻和恒流源的电阻测量仪 |
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引用本文: | 丁志杰,李明勇,张小玢.基于数控电阻和恒流源的电阻测量仪[J].电子测量技术,2014(7). |
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作者姓名: | 丁志杰 李明勇 张小玢 |
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作者单位: | 北京理工大学信息与电子学院; |
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摘 要: | 设计了一种高精度可自动调整量程的电阻测量仪。本测量仪采用高稳定性的2mA恒流源作为激励加载在待测电阻上,并利用由数控电阻MAX5400构成的数控放大模块对待测电阻两端的电压进行放大,最后由基于ARM Cortex-M3内核的STM32F103RE微控制器内部的ADC对放大后的电压进行A/D采样变换,从而计算出待测电阻阻值。微控制器可以通过SPI总线对数控电阻进行控制,从而改变数控放大模块的放大倍数,根据待测电阻自动的改变测量量程。试验表明,本文设计的测量仪大大提高电阻测量精度,误差小于1%。
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关 键 词: | Cortex-M 数控电阻 恒流源 电阻测量 |
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