离子探针分析锑化铟器件表面沾污 |
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引用本文: | 宋泉珍.离子探针分析锑化铟器件表面沾污[J].红外与激光工程,1987(4). |
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作者姓名: | 宋泉珍 |
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作者单位: | 航天工业部二院二十五所 |
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摘 要: | 本文描述用离子探针显微分析法研究锑化铟器件表面沽污的情况。研究发现:各工艺过程中采用的容器、化学试剂、去离子水及工作环境,都是杂质沽污的主要来源。离子探针显微分析法促进了工艺的改进,使阳极氧化工序的沾污杂质由13种减少到7种,Na、K和Ca杂质的含量也大大下降。中测腐蚀工序沾污杂质由11~13种减少到4~6种。器件表面沾污的减少使器件性能得到改善,φ2mm器件的阻抗由10kΩ提高到60~70kΩ,成品率也提高一倍左右。
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关 键 词: | 离子显微探针分析仪 光伏探测器 红外探测器 锑化铟探测器 表面钝化 |
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