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一种改进的全数字化锁相环在光栅位置检测中的应用
引用本文:王小兵,金锋.一种改进的全数字化锁相环在光栅位置检测中的应用[J].仪器仪表学报,2004,25(Z3):641-643.
作者姓名:王小兵  金锋
作者单位:北京理工大学信息科学技术学院,北京,100081
摘    要:全数字锁相环(ADPLL)应用广泛,但是在检测领域应用不多.为此,介绍了将一种改进的全数字化锁相环应用于光栅位置检测中的方法.该方法先将光栅传感器的输出信号进行相应调制预处理,再送入全数字锁相环中进行倍频细分,这样既避免了传统锁相环细分方法的缺点,又有细分数高,调节方便,捕捉范围宽的优点.

关 键 词:全数字锁相环  光栅  位置检测

Application of Improved ADPLL in Grating Position Measure
WANG Xiaobing,Jin Feng.Application of Improved ADPLL in Grating Position Measure[J].Chinese Journal of Scientific Instrument,2004,25(Z3):641-643.
Authors:WANG Xiaobing  Jin Feng
Abstract:
Keywords:
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